оснащен превосходной оптической системой UIS и конструкцией функции модульности, что позволяет оперативно обновлять систему и достигать ...

используются для идентификации и анализа структур в различных металлах и сплавах.

прямой (неинвертированный) микроскоп отраженного света для работы по методам светлого и темного поля

подходит для наблюдения за поверхностями непрозрачного объекта

подходят для наблюдения за микроскопическими поверхностями непрозрачного объекта

Универсальный металлографический микроскоп для работы в отраженном свете по методам светлого поля и по методу поляризации